ISBN: 1402032072
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Einführung in fortgeschrittenes System-on-Chip-Testdesign und optimal... - 9781402032073 - encuadernado, tapa blanda
ISBN: 9781402032073
(ISBN-13: 9781402032073, 978-1402032073. SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The book is divided int… Más…
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Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing, 29) - encuadernado, tapa blanda
2005, ISBN: 9781402032073
Springer, Hardcover, Auflage: 2005, 408 Seiten, Publiziert: 2005-11-07T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, 1.66 kg, Civil & Environmental, Engineering & Transportation, Subjects, Books, Desig… Más…
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2005, ISBN: 1402032072
gebundene Ausgabe 388 Seiten; Gebundene Ausgabe Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rück… Más…
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2005, ISBN: 1402032072
2005 Gebundene Ausgabe Konstruktion, Entwurf, Elektrotechnik, Elektronik, Schaltkreise und Komponenten (Bauteile), boundaryscan; SOCtestdesign; Transistor; automation; consumption; inte… Más…
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Erik Larsson:
Einführung in fortgeschrittenes System-on-Chip-Testdesign und optimal... - 9781402032073 - encuadernado, tapa blandaISBN: 9781402032073
(ISBN-13: 9781402032073, 978-1402032073. SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The book is divided int… Más…
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing, 29) - encuadernado, tapa blanda
2005
ISBN: 9781402032073
Springer, Hardcover, Auflage: 2005, 408 Seiten, Publiziert: 2005-11-07T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, 1.66 kg, Civil & Environmental, Engineering & Transportation, Subjects, Books, Desig… Más…
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gebundene Ausgabe 388 Seiten; Gebundene Ausgabe Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rück… Más…
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Datos bibliográficos del mejor libro coincidente
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Detalles del libro - Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Frontiers in Electronic Testing, 29)
EAN (ISBN-13): 9781402032073
ISBN (ISBN-10): 1402032072
Tapa dura
Año de publicación: 2005
Editorial: Springer
388 Páginas
Peso: 1,093 kg
Idioma: eng/Englisch
Libro en la base de datos desde 2007-07-11T13:25:27+02:00 (Madrid)
Página de detalles modificada por última vez el 2023-10-06T23:37:03+02:00 (Madrid)
ISBN/EAN: 1402032072
ISBN - escritura alterna:
1-4020-3207-2, 978-1-4020-3207-3
Mode alterno de escritura y términos de búsqueda relacionados:
Autor del libro: larsson
Título del libro: system modelling and optimization, design systems chip, design sweden, introduction advanced system chip test design and optimization, opti, little design possible, looking design, best test design
Datos del la editorial
Autor: Erik Larsson
Título: Frontiers in Electronic Testing; Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
Editorial: Springer; Springer US
388 Páginas
Año de publicación: 2005-11-07
New York; NY; US
Idioma: Inglés
160,49 € (DE)
164,99 € (AT)
177,00 CHF (CH)
Available
XX, 388 p.
BB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Boundary Scan; SOC test design; System-on-Chip; Transistor; automation; consumption; integrated circuit; Electronic Circuits and Systems; Electrical and Electronic Engineering; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Engineering Design; Optical Materials; Elektrotechnik; Elektronik; Konstruktion, Entwurf; Technische Anwendung von elektronischen, magnetischen, optischen Materialien; BC
Testing Concepts.- Design Flow.- Design for Test.- Boundary Scan.- SOC Design for Testability.- System Modeling.- Test Conflicts.- Test Power Dissipation.- Test Access Mechanism.- Test Scheduling.- SOC Test Applications.- A Reconfigurable Power-Conscious Core Wrapper and its Application to System-on-Chip Test Scheduling.- An Integrated Framework for the Design and Optimization of SOC Test Solutions.- Efficient Test Solutions for Core-Based Designs.- Core Selection in the SOC Test Design-Flow.- Defect-Aware Test Scheduling.- An Integrated Technique for Test Vector Selection and Test Scheduling under ATE Memory Depth Constraint.System perspective to SOC test design. Overview of test problems and their modeling Test scheduling overview, extensive reference list Applicable for Master students and PhD-students working in the test field. Could also be good for researchers and professors who would like to get into the area of SOC testing, also for persons in the field who want some references Includes supplementary material: sn.pub/extras
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