- 3 Resultados
precio mínimo: € 109,75, precio máximo: € 129,93, precio promedio: € 123,01
1
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) - Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
Pedir
por amazon.co.uk
£ 108,00
(aprox. € 129,93)
Envío: € 6,751
PedirEnlace patrocinado
Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp:

Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) - Pasta blanda

ISBN: 3642077854

Paperback, [EAN: 9783642077852], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], Springer, 922354, Mechanics, 278122, Civil Engineering, 278115, Engineering & Technology, 57, Science & Nature, … Más…

  - Neuware Gastos de envío:Europa Zone 1: GBP 5,48 pro Produkt. (EUR 6.75) Amazon.co.uk
2
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) - Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
Pedir
por amazon.co.uk
£ 86,75
(aprox. € 109,75)
Envío: € 6,751
PedirEnlace patrocinado

Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp:

Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) - Pasta blanda

ISBN: 3642077854

Paperback, [EAN: 9783642077852], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], Springer, 922354, Mechanics, 278122, Civil Engineering, 278115, Engineering & Technology, 57, Science & Nature, … Más…

  - Neuware Gastos de envío:Europa Zone 1: GBP 5,48 pro Produkt. (EUR 6.75) Amazon.co.uk
3
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) - Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp
Pedir
por amazon.com
US$ 169,00
(aprox. € 129,36)
PedirEnlace patrocinado
Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp:
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) - Pasta blanda

ISBN: 3642077854

[SR: 3276942], Paperback, [EAN: 9783642077852], Springer, English, English, English, Springer, Book, Springer, Springer, This is the first book on lock-in thermography, an analytical meth… Más…

  - Neuware Gastos de envío:más gastos de envío Amazon.com

1Dado que algunas plataformas no nos comunican las condiciones de envío y éstas pueden depender del país de entrega, del precio de compra, del peso y tamaño del artículo, de una posible membresía a la plataforma, de una entrega directa por parte de la plataforma o a través de un tercero (Marketplace), etc., es posible que los gastos de envío indicados por eurolibro/terralibro no concuerden con los de la plataforma ofertante.

Datos bibliográficos del mejor libro coincidente

Detalles del libro

Detalles del libro - Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics)


ISBN (ISBN-10): 3642077854 (ISBN-13: 9783642077852)
Tapa blanda

Libro en la base de datos desde 2010-06-08T10:36:43+02:00 (Madrid)
Página de detalles modificada por última vez el 2014-08-01T09:03:17+02:00 (Madrid)
ISBN/EAN: 3642077854

ISBN - escritura alterna:
3-642-07785-4
Mode alterno de escritura y términos de búsqueda relacionados:
Autor del libro: martin wilhelm
Título del libro: thermography


Datos del la editorial

Autor: Otwin Breitenstein; Wilhelm Warta; Martin Langenkamp
Título: Springer Series in Advanced Microelectronics; Lock-in Thermography - Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Editorial: Springer Berlin
193 Páginas
Año de publicación: 2011-03-06
Idioma: Inglés
128,35 € (DE)
132,00 € (AT)
186,50 CHF (CH)
Not available (reason unspecified)

BC; PB; Hardcover, Softcover / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Elektronik, Nachrichtentechnik; Failure analysis; Solar cell characterization; Trap density mapping; Shunt imaging; Lifetime mapping; Research

Introduction.- Physical and Technical Basics.- Experimental Technique.- Theory.- Measurement Strategies.- Typical Applications.- Summary and Outlook.- References.- Appendices.- Index.
This is the first book on lock-in thermography, an analytical method applied to the diagnosis of microelectronic devices. It provides the necessary knowledge on the scientific basics and application of this method. It appeals to electrical engineers, researchers and advanced students.

< para archivar...