Jad Bazzi:Caractérisation des TBH-SiGe à très hautes fréquences Simulation EM, Calibrage, De-embedding
- libro nuevo 2012, ISBN: 9783841798657
Kartoniert, 188 Seiten, 220mm x 150mm x 12mm, Sprache(n): fre Les TBH SiGe sont parmi les composants les plus rapides et sont utilisés pour les applications millimétriques. Des systèmes f… Más…
Kartoniert, 188 Seiten, 220mm x 150mm x 12mm, Sprache(n): fre Les TBH SiGe sont parmi les composants les plus rapides et sont utilisés pour les applications millimétriques. Des systèmes fonctionnent à 820GHz avec ces composants ont été déjà mis en oeuvre. Afin de concevoir des circuits fonctionnant à ces fréquences très élevées, une analyse détaillée du comportement intrinsèque doit être effectuée. L¿objectif principal de cette thèse est la caractérisation de la partie intrinsèque de ces composants. Une bonne précision de mesure dans la gamme de fréquences ondes millimétriques représente un vrai challenge, puisque les grandeurs intrinsèques du dispositif sont beaucoup plus faibles que les données brutes de mesure auxquelles est associée la partie extrinsèque du composant. Afin de corriger la partie extrinsèque, des techniques de de-embedding spécifiques sont mises au point pour obtenir ces caractéristiques intrinsèques réelles. De plus, une technique de calibration directement sur la puce, sans utiliser de calkit, a été élaborée. Ceci permet de s¿affranchir des effets de couplage entre la surface du standard de calibrage et les pointes de test hyperfréquences. L¿ensemble a été validé par des simulations de type électromagnétique.né à BintJbeil, Liban en 1985. Il a reçu son diplôme de maîtrise dans circuits, système, micro et nano technologie pour la communication haute fréquence et optique de l'Université de Limoges, France en 2008 et le doctorat en électronique de l'Université de Bordeaux 1, Talence, France en 2011. Versandkostenfreie Lieferung<
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MUESTRA
Bazzi, Jad:Caractérisation des TBH-SiGe à très hautes fréquences - Simulation EM, Calibrage, De-embedding
- Pasta blanda 2012, ISBN: 9783841798657
[ED: Taschenbuch / Paperback], [PU: Éditions universitaires européennes], Les TBH SiGe sont parmi les composants les plus rapides et sont utilisés pour les applications millimétriques. De… Más…
[ED: Taschenbuch / Paperback], [PU: Éditions universitaires européennes], Les TBH SiGe sont parmi les composants les plus rapides et sont utilisés pour les applications millimétriques. Des systèmes fonctionnent à 820GHz avec ces composants ont été déjà mis en oeuvre. Afin de concevoir des circuits fonctionnant à ces fréquences très élevées, une analyse détaillée du comportement intrinsèque doit être effectuée. L objectif principal de cette thèse est la caractérisation de la partie intrinsèque de ces composants. Une bonne précision de mesure dans la gamme de fréquences ondes millimétriques représente un vrai challenge, puisque les grandeurs intrinsèques du dispositif sont beaucoup plus faibles que les données brutes de mesure auxquelles est associée la partie extrinsèque du composant. Afin de corriger la partie extrinsèque, des techniques de de-embedding spécifiques sont mises au point pour obtenir ces caractéristiques intrinsèques réelles. De plus, une technique de calibration directement sur la puce, sans utiliser de calkit, a été élaborée. Ceci permet de s affranchir des effets de couplage entre la surface du standard de calibrage et les pointes de test hyperfréquences. L ensemble a été validé par des simulations de type électromagnétique., DE, [SC: 0.00], Neuware, gewerbliches Angebot, 220 mm, 188, Selbstabholung und Barzahlung, PayPal, offene Rechnung, Banküberweisung, Internationaler Versand<
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Bazzi, Jad:Caractérisation des TBH-SiGe à très hautes fréquences
- Pasta blanda ISBN: 9783841798657
[ED: Softcover], [PU: Éditions universitaires européennes], Les TBH SiGe sont parmi les composants les plus rapides et sont utilisés pour les applications millimétriques. Des systèmes fon… Más…
[ED: Softcover], [PU: Éditions universitaires européennes], Les TBH SiGe sont parmi les composants les plus rapides et sont utilisés pour les applications millimétriques. Des systèmes fonctionnent à 820GHz avec ces composants ont été déjà mis en oeuvre. Afin de concevoir des circuits fonctionnant à ces fréquences très élevées, une analyse détaillée du comportement intrinsèque doit être effectuée. L'objectif principal de cette thèse est la caractérisation de la partie intrinsèque de ces composants. Une bonne précision de mesure dans la gamme de fréquences ondes millimétriques représente un vrai challenge, puisque les grandeurs intrinsèques du dispositif sont beaucoup plus faibles que les données brutes de mesure auxquelles est associée la partie extrinsèque du composant. Afin de corriger la partie extrinsèque, des techniques de de-embedding spécifiques sont mises au point pour obtenir ces caractéristiques intrinsèques réelles. De plus, une technique de calibration directement sur la puce, sans utiliser de calkit, a été élaborée. Ceci permet de s'affranchir des effets de couplage entre la surface du standard de calibrage et les pointes de test hyperfréquences. L'ensemble a été validé par des simulations de type électromagnétique.
188 S. 220 mm
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Bazzi, Jad:Caractérisation des TBH-SiGe à très hautes fréquences
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[ED: Softcover], [PU: Éditions Universitaires Européennes], Les TBH SiGe sont parmi les composants les plus rapides et sont utilisés pour les applications millimétriques. Des systèmes fon… Más…
[ED: Softcover], [PU: Éditions Universitaires Européennes], Les TBH SiGe sont parmi les composants les plus rapides et sont utilisés pour les applications millimétriques. Des systèmes fonctionnent à 820GHz avec ces composants ont été déjà mis en oeuvre. Afin de concevoir des circuits fonctionnant à ces fréquences très élevées, une analyse détaillée du comportement intrinsèque doit être effectuée. L objectif principal de cette thèse est la caractérisation de la partie intrinsèque de ces composants. Une bonne précision de mesure dans la gamme de fréquences ondes millimétriques représente un vrai challenge, puisque les grandeurs intrinsèques du dispositif sont beaucoup plus faibles que les données brutes de mesure auxquelles est associée la partie extrinsèque du composant. Afin de corriger la partie extrinsèque, des techniques de de-embedding spécifiques sont mises au point pour obtenir ces caractéristiques intrinsèques réelles. De plus, une technique de calibration directement sur la puce, sans utiliser de calkit, a été élaborée. Ceci permet de s affranchir des effets de couplage entre la surface du standard de calibrage et les pointes de test hyperfréquences. L ensemble a été validé par des simulations de type électromagnétique.188 S. 220 mmVersandfertig in 3-5 Tagen, [SC: 0.00]<
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Bazzi, Jad:Caractérisation des TBH-SiGe à très hautes fréquences: Simulation EM, Calibrage, De-embedding (Omn.Univ.Europ.)
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Editions universitaires europeennes, Paperback, 188 Seiten, Publiziert: 2012-08-06T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, Hersteller-Nr.: black & white illustrations, 0.28 kg, Essays, Journals &… Más…
Editions universitaires europeennes, Paperback, 188 Seiten, Publiziert: 2012-08-06T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, Hersteller-Nr.: black & white illustrations, 0.28 kg, Essays, Journals & Letters, Poetry, Drama & Criticism, Subjects, Books, History & Criticism, Electronics Engineering, Electronics & Communications Engineering, Engineering & Technology, Science, Nature & Maths, Foreign Language Books, 579c3025-5e5c-446b-80c9-b24e6fd5c94f_8301, 579c3025-5e5c-446b-80c9-b24e6fd5c94f_0, Special Features Stores, Arborist Merchandising Root, Editions universitaires europeennes, 2012<
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