Fringe 2013 : 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology - encuadernado, tapa blanda
2013, ISBN: 364236358X
[EAN: 9783642363580], Neubuch, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin Heidelberg], ADAPTIVEANDACTIVESOLUTIONSTRATEGIES; COMPRESSEDSENSING; COMPUTATIONALIMAGING; DIGITALWAVEFRONTENGINEERING; HYBR… Más…
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Springer, Gebundene Ausgabe, Auflage: 2014, 1002 Seiten, Publiziert: 2013-08-29T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: 700 black & white illustrations, 39.57 kg, Grafik & Multime… Más…
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[PU: Springer Berlin], 24119320/1, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches Angebot, 2014, Banküberweisung, Kreditkarte, PayPal, Klarna-Sofortüberweisung, Internationaler Versand
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Fringe 2013 : 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology - encuadernado, tapa blanda
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Datos bibliográficos del mejor libro coincidente
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- New methods and tools for the generation, acquisition, processing, and evaluation of data in Optical Imaging and Metrology (digital wavefront engineering, computational imaging, model-based reconstruction, compressed sensing, inverse problems solution)
- Application-driven technologies in Optical Imaging and Metrology (high-resolution, adaptive, active, robust, reliable, flexible, in-line, real-time)
- High-dynamic range solutions in Optical Imaging and Metrology (from macro to nano)
- Hybrid technologies in Optical Imaging and Metrology
(hybrid optics, sensor and data fusion, model-based solutions, multimodality)
- New optical sensors, imaging and measurement systems
(integrated, miniaturized, in-line, real-time, traceable, remote)
Special emphasis is put on new strategies, taking into account the active combination of physical modeling, computer aided simulation and experimental data acquisition. In particular attention is directed towards new approaches for the extension of existing resolution limits that open the gates to wide-scale metrology, ranging from macro to nano, by considering dynamic changes and using advanced optical imaging and sensor systems.
Detalles del libro - Fringe 2013: 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology
EAN (ISBN-13): 9783642363580
ISBN (ISBN-10): 364236358X
Tapa dura
Tapa blanda
Año de publicación: 2013
Editorial: Osten, Wolfgang, Springer
Libro en la base de datos desde 2014-05-10T18:55:41+02:00 (Madrid)
Página de detalles modificada por última vez el 2023-10-06T23:31:38+02:00 (Madrid)
ISBN/EAN: 9783642363580
ISBN - escritura alterna:
3-642-36358-X, 978-3-642-36358-0
Mode alterno de escritura y términos de búsqueda relacionados:
Autor del libro: ost, osten
Título del libro: frings, fringe
Datos del la editorial
Autor: Wolfgang Osten
Título: Fringe 2013 - 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology
Editorial: Springer; Springer Berlin
976 Páginas
Año de publicación: 2013-08-29
Berlin; Heidelberg; DE
Impreso en
Idioma: Inglés
320,99 € (DE)
329,99 € (AT)
354,00 CHF (CH)
POD
XXVI, 976 p. 620 illus.
BB; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie; Sicherheitssysteme und Brandmeldeanlagen; Verstehen; Ingenieurwissenschaften; Adaptive and Active Solution Strategies; Compressed Sensing; Computational Imaging; Digital Wavefront Engineering; Hybrid Optics; In-line Performance; Integration; Inverse-Problems Solution; Miniaturization; Model-Based Reconstruction Technologies; Model-Based Solutions; Multimodality; Real-Time Performance; Remote Technology; Resolution-Enhanced Technologies; Sensor and Data Fusion; Traceability; quality control, reliability, safety and risk; Security Science and Technology; Laser; Signal, Speech and Image Processing; Computer Vision; Laserphysik; Elektronik; Digitale Signalverarbeitung (DSP); Maschinelles Sehen, Bildverstehen; EA; BC
Special emphasis is put on new strategies, taking into account the active combination of physical modeling, computer aided simulation and experimental data acquisition. In particular attention is directed towards new approaches for the extension of existing resolution limits that open the gates to wide-scale metrology, ranging from macro to nano, by considering dynamic changes and using advanced optical imaging and sensor systems.A comprehensive overview about the state of the art in modern optical imaging and metrology Written by the world leading experts in the field Combination of two disciplines: metrology and imaging
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