2008, ISBN: 3540851542
2008 Gebundene Ausgabe Physik / Allgemeines, Einführung, Lexikon, calculus; Electron; electronmicroscopy; electronoptics; microscopy; optics; scanningelectronmicroscopy, mit Schutzumsch… Más…
Achtung-Buecher.de MARZIES.de Buch- und Medienhandel, 14621 Schönwalde-Glien Gastos de envío:Versandkostenfrei innerhalb der BRD. (EUR 0.00) Details... |
2008, ISBN: 3540851542
[EAN: 9783540851547], Gebraucht, guter Zustand, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin], ELECTRON MICROSCOPY,CALCULUS,MICROSCOPY,SCANNING MICROSCOPY,OPTICS,ELECTRON OPTICS,ELECTRON,, Neubindung,… Más…
ZVAB.com Buchpark, Trebbin, Germany [83435977] [Rating: 5 (von 5)] NOT NEW BOOK. Gastos de envío:Versandkostenfrei. (EUR 0.00) Details... |
2008, ISBN: 9783540851547
[PU: Springer Berlin], Neubindung, Buchschnitt etwas zu weit abgeschnitten, Buchblock leicht schräg eingesetzt, Ausgabe 2008 4564805/12, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches … Más…
booklooker.de |
2008, ISBN: 9783540851547
Springer. hardcover. New. 6x1x9. Brand New Book in Publishers original Sealing, Springer, 6
Biblio.co.uk |
2008, ISBN: 9783540851547
Springer, 2008-08-26. 2008. Hardcover. Used:Good., Springer, 2008-08-26, 0
Biblio.co.uk |
2008, ISBN: 3540851542
2008 Gebundene Ausgabe Physik / Allgemeines, Einführung, Lexikon, calculus; Electron; electronmicroscopy; electronoptics; microscopy; optics; scanningelectronmicroscopy, mit Schutzumsch… Más…
Luysberg, Martina, Karsten Tillmann und Thomas Weirich:
EMC 2008 Vol 1: Instrumentation and Methods - encuadernado, tapa blanda2008, ISBN: 3540851542
[EAN: 9783540851547], Gebraucht, guter Zustand, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin], ELECTRON MICROSCOPY,CALCULUS,MICROSCOPY,SCANNING MICROSCOPY,OPTICS,ELECTRON OPTICS,ELECTRON,, Neubindung,… Más…
2008
ISBN: 9783540851547
[PU: Springer Berlin], Neubindung, Buchschnitt etwas zu weit abgeschnitten, Buchblock leicht schräg eingesetzt, Ausgabe 2008 4564805/12, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches … Más…
2008, ISBN: 9783540851547
Springer. hardcover. New. 6x1x9. Brand New Book in Publishers original Sealing, Springer, 6
2008, ISBN: 9783540851547
Springer, 2008-08-26. 2008. Hardcover. Used:Good., Springer, 2008-08-26, 0
Datos bibliográficos del mejor libro coincidente
Autor: | |
Título: | |
ISBN: |
Detalles del libro - EMC 2008: Vol 1: Instrumentation and Methods
EAN (ISBN-13): 9783540851547
ISBN (ISBN-10): 3540851542
Tapa dura
Tapa blanda
Año de publicación: 2008
Editorial: Luysberg, Martina, Tillmann, Karsten, Weirich, Thomas, Springer
862 Páginas
Peso: 1,388 kg
Idioma: eng/Englisch
Libro en la base de datos desde 2008-09-04T23:14:00+02:00 (Madrid)
Página de detalles modificada por última vez el 2024-04-16T22:45:18+02:00 (Madrid)
ISBN/EAN: 3540851542
ISBN - escritura alterna:
3-540-85154-2, 978-3-540-85154-7
Mode alterno de escritura y términos de búsqueda relacionados:
Autor del libro: schryvers, karsten thomas, tillmann, weirich, luys, martina thom, till thomas, luy
Título del libro: aachen september, die instrumentation der, 2008, tillmann, emc
Datos del la editorial
Autor: Martina Luysberg; Karsten Tillmann; Thomas Weirich
Título: EMC 2008 - Vol 1: Instrumentation and Methods
Editorial: Springer; Springer Berlin
862 Páginas
Año de publicación: 2008-08-26
Berlin; Heidelberg; DE
Idioma: Inglés
320,99 € (DE)
329,99 € (AT)
354,00 CHF (CH)
Available
XXXVIII, 862 p.
BB; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Allgemeines, Lexika; Mathematik und Naturwissenschaften; Verstehen; Astronomie, Kartographie; calculus; electron; electron microscopy; electron optics; microscopy; optics; scanning electron microscopy; Physics and Astronomy; EA; BC
Instrumentation and Methods.- TEM and STEM instrumentation and Electron Optics.- TEM and STEM methods.- SEM/FIB Instrumentation and Methods.- Other Microscopies.- Image analysis and Processing.- Sample Preparation for Materials Science and Biology.Más, otros libros, que pueden ser muy parecidos a este:
Último libro similar:
9783662502259 EMC 2008 (Herausgegeben:Luysberg, Martina; Tillmann, Karsten; Weirich, Thomas)
< para archivar...