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Noncontact Atomic Force Microscopy - Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger
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Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger:

Noncontact Atomic Force Microscopy - libro nuevo

2009, ISBN: 9783319155883

This book presents the latest developments in noncontact atomic force microscopy. It deals with the following outstanding functions and applications that have been obtained with atomic re… Más…

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ISBN: 9783319155883

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Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger:
Noncontact Atomic Force Microscopy - libro nuevo

2015

ISBN: 9783319155883

Volume 3, eBooks, eBook Download (PDF), 2015, [PU: Springer International Publishing], Seiten: 527, Springer International Publishing, 2015

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Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger:
Noncontact Atomic Force Microscopy - Primera edición

2015, ISBN: 9783319155883

Volume 3, [ED: 1], Auflage, eBook Download (PDF), eBooks, [PU: Springer-Verlag]

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Datos bibliográficos del mejor libro coincidente

Detalles del libro
Noncontact Atomic Force Microscopy
Autor:
Título:
ISBN:

9783319155883

Detalles del libro - Noncontact Atomic Force Microscopy


EAN (ISBN-13): 9783319155883
ISBN (ISBN-10): 3319155881
Año de publicación: 2009
Editorial: Springer International Publishing

Libro en la base de datos desde 2015-08-07T14:52:55+02:00 (Madrid)
Página de detalles modificada por última vez el 2022-11-25T17:47:30+01:00 (Madrid)
ISBN/EAN: 9783319155883

ISBN - escritura alterna:
3-319-15588-1, 978-3-319-15588-3
Mode alterno de escritura y términos de búsqueda relacionados:
Autor del libro: ernst meyer, gies, ernst wies, wiese, roland wiesendanger, meyer franz

Datos del la editorial

Autor: Seizo Morita; Franz J. Giessibl; Ernst Meyer; Roland Wiesendanger
Título: NanoScience and Technology; Noncontact Atomic Force Microscopy - Volume 3
Editorial: Springer; Springer International Publishing
527 Páginas
Año de publicación: 2015-05-18
Cham; CH
Idioma: Inglés
213,99 € (DE)
220,00 € (AT)
236,00 CHF (CH)
Available
XXII, 527 p. 256 illus., 159 illus. in color.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Physik, Astronomie/Atomphysik, Kernphysik; Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik); Verstehen; Atom Manipulation; Atomic Force Microscopy; Atomic Resolution; Atomic/Molecular Manipulation; Chemical Structure; Force Mapping with Atomic Resolution; Liquid AFM; Magnetic Exchange Force Microscopy; Scanning Probe Techniques; Scanning Tunneling Microscopy; B; Nanophysics; Surfaces, Interfaces and Thin Film; Spectroscopy; Nanotechnology; Chemistry and Materials Science; Nanowissenschaften; Materialwissenschaft; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Nanotechnologie; BB

From the Contents: Introduction.- 3D Force-Field Spectroscopy.- Simultaneous NC-AFM/STM Measurements of Atomic-Sized Contacts.- Spectroscopy and Manipulation Using AFM/STM at Room Temperature.- The Phantom Force - The Influence of a Tunnel Current on Force Microscopy.- Non-Contact Friction.- Magnetic Exchange Force Spectroscopy.
Represents a most advanced state-of-the-art report on atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy Deals with the various classes of materials studied at the atomic scale A valuable reference for researchers as well as a text for graduate students Written by leading researchers in the field Includes supplementary material: sn.pub/extras
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